資料詳細

【図書】 はじめてのデバイス評価技術

ビギナーズブックス --
二川清／著 -- 工業調査会 -- ２０００．０１ -- ２１ｃｍ -- ２４２ｐ

タイトル	はじめてのデバイス評価技術
シリーズ名	ビギナーズブックス
著者名等	二川清／著
出版	工業調査会２０００．０１
大きさ等	２１ｃｍ２４２ｐ
分類	549.8
件名	半導体
内容	文献あり　索引あり
要旨	半導体デバイスにとって信頼性は重要なテーマである。わが国の半導体産業は短期間に大きな飛躍を遂げたが、その要因はデバイスの品質の良さにあったといっても過言ではない。これはプロセス・評価技術がしっかりしていたためといえる。本書はこの評価技術の全貌を著者の経験を交えて、初めての人でも十分理解できるようにまとめた実務書である。
目次	第１章　半導体デバイスの特徴；第２章　デバイス評価技術概要；第３章　信頼性試験；第４章　故障解析；第５章　寿命データ解析；第６章　具体例・応用事例
ISBN(13)、ISBN	4-7693-1179-6
書誌番号	1100004083

所蔵

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所蔵館	所蔵場所	別置	請求記号	資料区分	状態	取扱	資料コード
中央	書庫		549.8/191	一般書	利用可	-	2018808997