電気試験所神代分室の記録 --
武田郁夫 /編著, 今井哲二 /編著, 高橋得雄 /編著   -- 工業調査会 -- 2001.03 -- 22cm -- 373p 図版10枚

資料詳細

タイトル 日本のエレクトロニクスの源流 上
副書名 電気試験所神代分室の記録
著者名等 武田郁夫 /編著, 今井哲二 /編著, 高橋得雄 /編著  
出版 工業調査会 2001.03
大きさ等 22cm 373p 図版10枚
分類 540.76
件名 工業技術院電気試験所
要旨 神代分室の歴史を紐解く上巻、そして神代分室がその後の半導体・集積回路時代の技術開発面で、どのような成果を挙げたのかを検証する下巻の2冊から成る。
目次 上巻(神代分室のルーツを探して;第二次大戦当時の状況;山形疎開と引き揚げ;戦中・戦後の研究とその後の展開 ほか);下巻(電子管研究から半導体研究への流れ;電子技術・産業とクリーンテクノロジー;ゲルマニウムとシリコンの歩み;化合物半導体の研究・実用化 ほか)
ISBN(13)、ISBN    4-7693-1200-8
書誌番号 1101024358

所蔵

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 540.7/88 一般書 利用可 - 2024393200 iLisvirtual