表面分析技術選書 --
日本表面科学会 /編   -- 丸善 -- 2004.2 -- 21cm -- 188p

資料詳細

タイトル ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡
シリーズ名 表面分析技術選書
著者名等 日本表面科学会 /編  
出版 丸善 2004.2
大きさ等 21cm 188p
分類 549.97
件名 電子顕微鏡
注記 索引あり
内容紹介 電子顕微鏡の中の走査電子顕微鏡について、装置、試料処理、測定法、分解能から、走査電子顕微鏡の有効活用までを理解できる1冊。ナノテクノロジー領域で重要なツールを実際の観察結果を多く織りまぜて解説する。
要旨 本書は、表面科学、ナノサイエンス、ナノテクノロジーという新しい切り口からSEMの能力と可能性をまとめたものである。おそらく、少なからぬ方がSEMでもこのようなものが観えるのか、あるいは、このような使い方もあるということに驚かれるであろう。原子レベルの分解能がなくとも、操作性の良さと他の計測法や加工法との複合化のしやすさにより、単なる観察手段にとどまらず、ナノ計測・ナノ加工のツールとして、ますます重要な位置を占め、その応用範囲が広がっていくものと考えられる。物質系のナノサイエンス、ナノテクノロジーを中心とした構成。
目次 1 走査電子顕微鏡の概要(基本構成;装置の種類 ほか);2 装置と測定法(装置;試料処理 ほか);3 像形成と分解能(電子と固体との相互作用;像形成と各種コントラスト ほか);4 ナノマテリアルの観察(半導体ナノ構造の観察;カーボンナノチューブの観察 ほか);5 その場観察・複合観察(超高真空SEMによるその場観察;プローブ顕微鏡との複合化 ほか)
ISBN(13)、ISBN    4-621-07361-3
書誌番号 1104012956
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1104012956

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
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