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【図書】 ＬＳＩ故障解析技術のすべて

開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー --
二川清 ／著   -- 工業調査会 -- ２００７．１１ -- ２１ｃｍ -- ２２１ｐ

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タイトル ＬＳＩ故障解析技術のすべて
副書名 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
著者名等 二川清 ／著  
出版 工業調査会 ２００７．１１
大きさ等 ２１ｃｍ ２２１ｐ
分類 549.7
件名 集積回路
注記 文献あり　索引あり
目次 第１章　ＬＳＩの故障とその特徴（故障解析に関連するＬＳＩのトレンド；ＬＳＩの故障の特徴；ＬＳＩの故障モードと故障メカニズム）；第２章　ＬＳＩ故障解析技術概論（ＬＳＩ故障解析の基本の「き」；故障解析の手順；故障解析技術の分類；パッケージ部の故障解析；チップ部の故障解析）；第３章　故障解析事例（ＤＲＡＭのＩＲ‐ＯＢＩＲＣＨなどによる解析事例；ロジックＬＳＩの解析事例；パワーＭＯＳ－ＦＥＴの解析事例；ＴｉＳｉ配線の解析事例；銅配線の解析事例；パッケージ中ボイドの解析事例）；第４章　新しい故障解析関連技術の開発動向（光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向；ＯＢＩＲＣＨ関連技術発展の流れと最近の動向；そのほかの故障解析技術関連の開発動向；ＬＳＩＴＳ（ＬＳＩテスティングシンポジウム），ＩＳＴＦＡ（故障解析国際会議）にみる動向）
ISBN(13)、ISBN 978-4-7693-1269-7　　 4-7693-1269-5
書誌番号 1107085943
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1107085943

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中央 ４階自然科学 Map 549.7 一般書 利用可 - 2039563846 iLisvirtual

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