大山英典 /共著, 中林正和 /共著, 葉山清輝 /共著, 江口啓 /共著   -- 森北出版 -- 2008.4 -- 22cm -- 189p

資料詳細

タイトル MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術
著者名等 大山英典 /共著, 中林正和 /共著, 葉山清輝 /共著, 江口啓 /共著  
出版 森北出版 2008.4
大きさ等 22cm 189p
分類 549.7
件名 集積回路
注記 文献あり 索引あり
要旨 設計、製造、信頼性MOSに必要な三つの技術を詳しく解説。FDMを活用する半導体に係わる全ての人に!第一線技術者の声も多く取り入れた、実用的な一冊。
目次 第1章 集積回路の現状と課題(半導体市場と技術動向;設計と信頼性技術の現状 ほか);第2章 集積回路の基礎(半導体の種類;Si半導体 ほか);第3章 MOS集積回路の構成と設計技術(ディジタル回路;アナログ回路 ほか);第4章 MOS集積回路の製造技術(製造環境;洗浄技術 ほか);第5章 MOS集積回路の信頼性技術(半導体デバイスの信頼性;半導体デバイスの信頼性評価 ほか)
ISBN(13)、ISBN 978-4-627-77381-3   4-627-77381-1
書誌番号 1108023941
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1108023941

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