LSIテスティング学会 /編   -- オーム社 -- 2008.11 -- 22cm -- 598p

資料詳細

タイトル LSIテスティングハンドブック
著者名等 LSIテスティング学会 /編  
出版 オーム社 2008.11
大きさ等 22cm 598p
分類 549.7
件名 集積回路-便覧
注記 索引あり
内容紹介 LSIテスティングに関する技術全般を整理して体系化した、この分野で初めてのハンドブック。LSIテストに関連する基本技術を含めて、すべての項目において具体的な事例やデータなど包括的に情報を提供。
要旨 理論と技術、装置全般の原理や法廷方法など「LSIのテスト」を体系化。
目次 1編 LSI製造工程と検査・解析(設計工程:テスト設計;マスク製造工程 ほか);2編 歩留り解析(歩留り解析;マスク解析 ほか);3編 故障解析(故障現象概論;故障解析の流れ ほか);4編 ツールの原理(光;X線 ほか)
ISBN(13)、ISBN 978-4-274-20632-0   4-274-20632-7
書誌番号 1108081933
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1108081933

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 549.7/180 一般書 利用可 - 2041624623 iLisvirtual