第2版 --
中井泉 /編, 泉富士夫 /編   -- 朝倉書店 -- 2009.7 -- 26cm -- 283p

資料詳細

タイトル 粉末X線解析の実際
版情報 第2版
著者名等 中井泉 /編, 泉富士夫 /編  
出版 朝倉書店 2009.7
大きさ等 26cm 283p
分類 433.5
件名 エックス線分光分析 , 放射線結晶学
注記 索引あり
内容紹介 現場で実際に粉末法を使う人のための手引書。物質の構造解析法として重要な粉末X線解析法、リートベルト解析の実際まで実例を交えて詳説。リーベルト解析に最低限必要な数学の基礎も概説する。
目次 粉末X線回折法の原理を理解しよう;粉末X線回折データを測定する;粉末X線回折データを読む;粉末X線回折データ解析の基礎;X線回折応用技術;これだけは知っておきたい結晶学;リートベルト法;構造解析のための回折データを測定する;RIETAN‐FPを使ってみよう;MEMによる解析;リートベルト解析に取り組む人へのアドバイス;粉末結晶構造解析;実例で学ぶ粉末X線解析;粉末X線解析に役立つ標準試料とデータベース
ISBN(13)、ISBN 978-4-254-14082-8   4-254-14082-7
書誌番号 1109053107

所蔵

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 433.5/61 一般書 利用可 - 2043170581 iLisvirtual