信頼性技術叢書 --
二川清 /編著, 塩野登 /著, 横川慎二 /著, 福田保裕 /著, 三井泰裕 /著   -- 日科技連出版社 -- 2010.10 -- 21cm -- 183p

資料詳細

タイトル LSIの信頼性
シリーズ名 信頼性技術叢書
著者名等 二川清 /編著, 塩野登 /著, 横川慎二 /著, 福田保裕 /著, 三井泰裕 /著  
出版 日科技連出版社 2010.10
大きさ等 21cm 183p
分類 549.7
件名 集積回路
注記 文献あり 索引あり
目次 第1章 LSI信頼性保証概論;第2章 トランジスタ系の信頼性;第3章 LSI配線の信頼性;第4章 静電気破壊現象;第5章 故障解析;第6章 寿命データ解析
ISBN(13)、ISBN 978-4-8171-9363-6   4-8171-9363-8
書誌番号 1110077559
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1110077559

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中央 4階自然科学 Map 549.7 一般書 利用可 - 2046037769 iLisvirtual