資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

【図書】 はじめてのデバイス評価技術

第２版 --
二川清 ／著   -- 森北出版 -- ２０１２．９ -- ２２ｃｍ -- １７９ｐ

資料詳細

タイトル はじめてのデバイス評価技術
版情報 第２版
著者名等 二川清 ／著  
出版 森北出版 ２０１２．９
大きさ等 ２２ｃｍ １７９ｐ
分類 549.8
件名 半導体
注記 初版：工業調査会２０００年刊
注記 文献あり　索引あり
要旨 半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説！知りたい情報が詰まってる。
目次 第１章　半導体デバイスの特徴；第２章　デバイス評価技術概要；第３章　信頼性試験；第４章　故障解析；第５章　寿命データ解析；第６章　具体例・応用事例
ISBN(13)、ISBN 978-4-627-77442-1　　 4-627-77442-7
書誌番号 1112064239

ページの先頭へ

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 ４階自然科学 Map 549.8 一般書 利用可 - 2049676975 iLisvirtual

ページの先頭へ