資料詳細

【図書】 Ｘ線・中性子による構造解析

大橋裕二／編著, 植草秀裕／著, 大原高志／著, 小島優子／著, 根本隆／著 -- 東京化学同人 -- ２０１５．１２ -- ２２ｃｍ -- ２９２ｐ

タイトル	Ｘ線・中性子による構造解析
著者名等	大橋裕二／編著, 植草秀裕／著, 大原高志／著, 小島優子／著, 根本隆／著
出版	東京化学同人２０１５．１２
大きさ等	２２ｃｍ２９２ｐ
分類	459.92
件名	放射線結晶学
注記	文献あり　索引あり
目次	結晶の周期性とＸ線；結晶とその対称性；Ｘ線の回折と電子密度；回折強度の対称性と消滅則：空間群の判定；回折強度と構造因子；構造因子の位相の決定；構造の精密化；実際の構造解析：解析ソフトウェアの取扱いとＣＩＦファイル；解析結果の整理；中性子構造解析；粉末構造解析；薄膜の構造解析
ISBN(13)、ISBN	978-4-8079-0798-4　　 4-8079-0798-0
書誌番号	1113328262

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館	所蔵場所	別置	請求記号	資料区分	状態	取扱	資料コード
中央	４階自然科学 Map		459.9	一般書	利用可	-	2055322050