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【図書】 蛍光Ｘ線分析の実際

第２版 --
中井泉 ／編集, 日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会 ／監修   -- 朝倉書店 -- ２０１６．７ -- ２６ｃｍ -- ２６５ｐ

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タイトル 蛍光Ｘ線分析の実際
版情報 第２版
著者名等 中井泉 ／編集, 日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会 ／監修  
出版 朝倉書店 ２０１６．７
大きさ等 ２６ｃｍ ２６５ｐ
分類 433.5
件名 エックス線分光分析
注記 索引あり
著者紹介 【中井泉】１９５３年　東京都に生まれる。１９７５年　東京教育大学理学部化学科卒業。１９８０年　筑波大学大学院化学研究科博士課程修了（理学博士）。１９８２年　筑波大学化学系助手、１９８４年　筑波大学化学系講師。１９９４年　東京理科大学理学部助教授、１９９８年　東京理科大学理学部教授　現在至る（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
内容紹介 試料調製、標準物質、蛍光Ｘ線装置スペクトル、定量分析などの基礎項目を平易に解説。さらに、食品中の有害元素分析、放射性大気粉塵の解析、美術品をはじめ文化財への非破壊分析など豊富な応用事例を掲載する。
目次 蛍光Ｘ線分析の基礎；蛍光Ｘ線スペクトル；蛍光Ｘ線分析装置；よりよいスペクトルの測り方、読み方；試料調製法；定量分析；標準物質；全反射蛍光Ｘ線分析法；Ｘ線顕微鏡；ＳＥＭ‐ＥＤＳ；めっき・薄膜の分析；ヘンドヘルド蛍光Ｘ線分析計；放射光利用；新しいアプローチと特殊応用；蛍光Ｘ線分析の実際：応用事例集；分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項；法令と届出
ISBN(13)、ISBN 978-4-254-14103-0　　 4-254-14103-3
書誌番号 1113398570
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1113398570

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中央 ４階自然科学 Map 433.5 一般書 利用可 - 2056607083 iLisvirtual

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