資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

【図書】 ソフトウェア不具合改善手法ＯＤＣ分析

工程の「質」を可視化する --
杉崎眞弘 ／著, 佐々木方規 ／著, 日科技連ＯＤＣ分析研究会 ／編   -- 日科技連出版社 -- ２０２０．８ -- ２１ｃｍ -- ２０４ｐ

資料詳細

タイトル ソフトウェア不具合改善手法ＯＤＣ分析
副書名 工程の「質」を可視化する
著者名等 杉崎眞弘 ／著, 佐々木方規 ／著, 日科技連ＯＤＣ分析研究会 ／編  
出版 日科技連出版社 ２０２０．８
大きさ等 ２１ｃｍ ２０４ｐ
分類 007.63
件名 ソフトウェア－品質管理
注記 文献あり　索引あり
著者紹介 【杉崎眞弘】長年、日本アイ・ビー・エム株式会社大和研究所にて中小型システムからＰＣ、組込みシステムに至るシステムのＯＳおよびアプリケーション製品の品質保証に従事。ＩＢＭ定年後、独立行政法人情報処理推進機構（ＩＰＡ）にて海外連携研究員として、ドイツ・フラウンホーファ研究所とＩｎｄｕｓｔｒｉｅ４．０およびそれを支えるシステムズエンジニアリング技術の日本への紹介・導入事業を３年間担当した。ＩＰＡ退任後、独立してソフトウェア開発のコンサルティング事業を生業とする傍ら、品質研究団体活動を行っている。日本科学技術連盟ＯＤＣ分析研究会運営委員、一般社団法人ＵＸ設計技術推進協会理事。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
要旨 巨大化・複雑化するソフトウェア開発において、技術者が多大な時間と労力を費やすのが不具合への対応である。従来、不具合を検出し、修正するのが主な対応であった。しかし、ＯＤＣ分析のアプローチ方法はまったく異なる。不具合を残存させてしまう「やり方」を見つけることで、ソフトウェア品質を改善するのがＯＤＣ分析手法である。ＯＤＣ分析においては、工程で摘出された不具合の出方を分析することにより工程実施の質を「見える化」し、必要なアクションを示唆し、実施するのである。ＯＤＣ分析は、米国ＩＢＭ社の研究チームが社外発表した研究論文をもとに手法化された。本書では、ＯＤＣ分析の分析理論を解説し、実務事例を紹介する。
目次 第１章　ソフトウェア開発の見える化について；第２章　ＯＤＣ分析のコンセプト；第３章　ＯＤＣ分析の事例研究；第４章　ＯＤＣ分析評価の理論的裏付け；第５章　ＯＤＣ分析実施のガイド；第６章　ＯＤＣ分析に関わる開発プロセスについて
ISBN(13)、ISBN 978-4-8171-9713-9　　 4-8171-9713-7
書誌番号 1113807895
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1113807895

ページの先頭へ

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 ４階自然科学 Map 情報科学 06 007.6 一般書 利用可 - 2066643371 iLisvirtual

ページの先頭へ