信頼性技術叢書 --
二川清 /編著, 石田勉 /著, 鈴木和幸 /著, 原田文明 /著, 古園博幸 /著, 益田昭彦 /著, 渡部良道 /著   -- 日科技連出版社 -- 2020.8 -- 21cm -- 220p

資料詳細

タイトル 信頼性七つ道具 応用編
シリーズ名 信頼性技術叢書
著者名等 二川清 /編著, 石田勉 /著, 鈴木和幸 /著, 原田文明 /著, 古園博幸 /著, 益田昭彦 /著, 渡部良道 /著  
出版 日科技連出版社 2020.8
大きさ等 21cm 220p
分類 509.6
件名 信頼性(工学)
注記 索引あり
注記 正編は「信頼性七つ道具R7」が該当
著者紹介 【二川清】1949年大阪市生まれ。大阪大学基礎工学部物性物理工学科卒業、同大学院修士課程修了。工学博士。NEC、NECエレクトロニクス、大阪大学などで信頼性の実務と研究開発に従事。現在、デバイス評価技術研究所代表。主な著書に『半導体デバイスの不良・故障解析技術』(編著、日科技連出版社、2019年)など。(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
要旨 本書は、信頼性技術叢書『信頼性七つ道具 R7』(2008年)の続編です。信頼性技術全般の最新の話題や、前著を補う内容を提供しており、図解や事例を多く用いて、わかりやすく解説されています。各手法の適用方法について、第1章から第7章で詳しく述べるとともに、第8章「信頼性ストーリー」では、それぞれの手法がどのように組み合わされて活用されているか、事例を通して解説しています。また、「初級信頼性技術者」資格認定試験を意識した演習問題や、それぞれの分野のある側面を気軽に知ることができるコラムを収録しています。
目次 第1章 信頼性データベース(RDB);第2章 信頼性設計技法;第3章 FMEA/FTA;第4章 デザインレビュー;第5章 信頼性試験;第6章 故障解析;第7章 ワイブル解析;第8章 信頼性ストーリー
ISBN(13)、ISBN 978-4-8171-9718-4   4-8171-9718-8
書誌番号 1113807896
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1113807896

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 4階自然科学 Map 509.6 一般書 利用可 - 2066643584 iLisvirtual