評価で変わる学校と学び --
ケネス・J.ガーゲン /著, シェルト・R.ギル /著, 東村知子 /訳, 鮫島輝美 /訳   -- ナカニシヤ出版 -- 2023.3 -- 21cm -- 223p

資料詳細

タイトル 何のためのテスト?
副書名 評価で変わる学校と学び
著者名等 ケネス・J.ガーゲン /著, シェルト・R.ギル /著, 東村知子 /訳, 鮫島輝美 /訳  
出版 ナカニシヤ出版 2023.3
大きさ等 21cm 223p
分類 371.7
件名 教育評価
注記 原タイトル:BEYOND THE TYRANNY OF TESTING
注記 索引あり
要旨 そのテスト、本当に必要ですか?社会構成主義の第一人者ガーゲンが教育学者ギルとともに誘う、豊かな学びの世界。テストのための学びから、ウェルビーイングのための評価へ。
目次 第1章 テストの暴力的支配を超える;第2章 教育は関係のプロセスである;第3章 関係に基づく評価に向けて;第4章 関係に基づく評価―初等教育;第5章 関係に基づく評価―中等教育;第6章 授業評価への関係論的アプローチ;第7章 学校評価への関係論的アプローチ;第8章 関係に基づく評価と教育変革;第9章 教育システム全体の変革に向けて
ISBN(13)、ISBN 978-4-7795-1704-4   4-7795-1704-4
書誌番号 1122031872
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1122031872

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 4階社会科学 Map 371.7 一般書 利用可 - 2074855264 iLisvirtual