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【図書】 有機ＥＬのデバイス物理

筒井哲夫 ／著, 安田剛 ／著   -- 丸善出版 -- ２０２３．１１ -- ２１ｃｍ -- ３６２ｐ

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タイトル 有機ＥＬのデバイス物理
著者名等 筒井哲夫 ／著, 安田剛 ／著  
出版 丸善出版 ２０２３．１１
大きさ等 ２１ｃｍ ３６２ｐ
分類 549.9
件名 有機ＥＬ
注記 索引あり
著者紹介 【筒井哲夫】１９６９年九州大学大学院工学研究科応用化学専攻修士課程修了。次世代化学材料評価技術研究組合常務理事などを経て、２０１５年～（株）半導体エネルギー研究所顧問。工学博士、九州大学名誉教授、応用物理学会フェロー。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
要旨 本書は社会実装が進んでいる高性能有機ＥＬに特化したデバイス物理の専門書である。非晶性ガラス有機半導体を用いた典型的な素子構成である積層薄膜型素子を出発点として有機ＥＬの動作原理を解説する。さらに、タンデム構造、エキサイプレックス、分子配向などの高効率化の鍵となる重要課題や、有機ＥＬ特有の輝度劣化と駆動寿命の問題を取り上げる。有機ＥＬの科学技術を基礎から深く学びたい研究者や有機ＥＬの研究開発現場の技術者が、デバイス物理の原理原則の立ち位置から、新たな独自の視点を獲得する契機となる一冊。
目次 第１部　概論（序論；有機ＥＬに使う非晶性ガラス有機半導体）；第２部　キャリヤの物理（空間電荷制限電流としてのキャリヤ再結合と素子動作特性；非晶性ガラス有機半導体におけるキャリヤ移動；非晶性ガラス有機薄膜における電極からのキャリヤ注入）；第３部　励起子の物理（励起子生成から発光まで；励起子の拡散・移動と消滅）；第４部　先進有機ＥＬの物理（エキサイプレックスの利用；タンデム型有機ＥＬと素子とキャリヤの対生成の概念；非晶性ガラス有機薄膜における分子配向；真空性蒸着法による超安定化ガラス）；第５部　有機ＥＬの信頼性（劣化メカニズムと駆動寿命）
ISBN(13)、ISBN 978-4-621-30865-3　　 4-621-30865-3
書誌番号 1122099529
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1122099529

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 ４階自然科学 Map 549.9 一般書 利用可 - 2077506481 iLisvirtual

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