半導体設計情報に潜むハードウェア版マルウェアの見つけ方 --
戸川望 /共著, 長谷川健人 /共著, 永田真一 /共著   -- オーム社 -- 2024.11 -- 21cm -- 150p

資料詳細

タイトル ハードウェアトロイ検知
副書名 半導体設計情報に潜むハードウェア版マルウェアの見つけ方
著者名等 戸川望 /共著, 長谷川健人 /共著, 永田真一 /共著  
出版 オーム社 2024.11
大きさ等 21cm 150p
分類 007.609
件名 情報セキュリティ(コンピュータ) , コンピュータウイルス , 大規模集積回路-設計 , 半導体
注記 文献あり 索引あり
著者紹介 【戸川望】博士(工学)。早稲田大学基幹理工学部情報通信学科教授。早稲田大学大学院理工学研究科電気工学専攻博士後期課程修了。早稲田大学助手、講師、准教授を経て、2009年より現職。集積システム設計、量子計算、ハードウェアセキュリティが専門。(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
内容紹介 ハードウェアトロイが登場する背景、ハードウェアトロイの検知技術、実際のサービス事例を網羅的に取り上げた1冊。ハードウェアトロイを事前に防ぐためにはどうすればいいのかを、具体的な事例を元に答えを導き出す。
要旨 半導体業界に携わるすべてのプロフェッショナルへ!干し草の中から縫い針を探すような課題に挑む!危険を取り除くための困難な検知ミッションに挑戦する!
目次 第1章 LSI設計とそこに潜む脅威(LSIとその重要性;LSIのサプライチェーン ほか);第2章 LSI設計の基礎(LSIの設計工程;LSI設計における基礎技術 ほか);第3章 ハードウェアトロイのモデル化(なぜ・どのようにハードウェアトロイを組み込むのか;ハードウェアトロイの特徴と分類 ほか);第4章 ハードウェアトロイの検知(ハードウェアトロイ検知方法の分類;設計情報の特徴に基づく検知方法 ほか);第5章 ハードウェアトロイ検知の実用化(HTfinderの開発;ハードウェアトロイ検知の実用化における課題 ほか)
ISBN(13)、ISBN 978-4-274-23268-8   4-274-23268-9
書誌番号 1124044331
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1124044331

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中央 4階自然科学 情報科学 007.6 一般書 貸出中 - 2077308868 iLisvirtual