資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

【図書】 二次イオン質量分析法

第２版 -- 表面分析技術選書 --
丸善出版 -- ２０２５．５ -- ２１ｃｍ -- ２２６ｐ

資料詳細

タイトル 二次イオン質量分析法
版情報 第２版
シリーズ名 表面分析技術選書
出版 丸善出版 ２０２５．５
大きさ等 ２１ｃｍ ２２６ｐ
分類 433.2
件名 表面（工学） , イオンビーム , 質量分析
注記 初版：丸善　１９９９年刊
注記 索引あり
要旨 二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）は、試料表面にイオンビームを照射し、飛び出した二次イオンの質量を検出して物質を同定し、さらに各物質の試料中での分布をイメージングする手法である。金属や半導体から高分子材料、生体試料にも適用できる分析法として、多くの研究分野で活用されている。２５年ぶりの大改訂となる本書では、重要性の高い基礎的な内容だけでなく、目的別の応用例を大幅に拡充。これからＳＩＭＳを使い始める学生はもちろん、現場の実務者にとっても有用な手引きとなる一冊。
目次 １　二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）とは何か（なぜＳＩＭＳで表面分析ができるのか；なぜＳＩＭＳで深さ方向分析ができるのか　ほか）；２　ＳＩＭＳの原理（スパッタリング収率；二次イオン化率と二次イオン収率　ほか）；３　ＳＩＭＳ装置の基礎（装置の概略；一次イオン照射系　ほか）；４　ＳＩＭＳによる測定の実際（試料の準備；無機物の定性分析　ほか）；５　ＳＩＭＳの応用・発展（無機物・金属・半導体の測定および元素分析；有機物・高分子の測定　ほか）
ISBN(13)、ISBN 978-4-621-31135-6　　 4-621-31135-2
書誌番号 1125012390
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1125012390

ページの先頭へ

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 ４階自然科学 Map 433.2 一般書 利用可 - 2078030456 iLisvirtual

ページの先頭へ