第2版 -- 表面分析技術選書 --
日本表面真空学会 /編   -- 丸善出版 -- 2025.11 -- 21cm -- 207p

資料詳細

タイトル X線光電子分光法
版情報 第2版
シリーズ名 表面分析技術選書
著者名等 日本表面真空学会 /編  
出版 丸善出版 2025.11
大きさ等 21cm 207p
分類 433.57
件名 電子分光法
注記 初版:丸善 1998年刊
注記 索引あり
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要旨 元素組成と化学状態の定量分析を可能にするX線光電子分光法(XPS)は、半導体デバイスの微細化、触媒、電池材料、有機薄膜など、先端材料研究の進展に不可欠な分析技術として、その重要性を増している。本書は、実用的なXPS入門書として好評を博した初版を全面的に改訂した最新版である。理論から測定・解析、そして先端応用事例までを一貫して徹底解説する。1〜5章で、光電子発生の原理、装置構成、試料調製、測定・解析の要点といった、測定者が確実に抑えるべき基礎事項を解説。新設の6章「応用・発展」では、雰囲気測定、イメージング、時間分解測定など、最新の多様な応用事例とその測定例を紹介した。XPSを初めて学ぶ学生から、実務に携わる研究者まで、すべての方の指針となる必携の一冊。
目次 1 X線光電子分光法(XPS)とは何か;2 光電子発生の原理;3 XPS装置の原理と基礎;4 測定法;5 データ解析;6 応用・発展
ISBN(13)、ISBN 978-4-621-31214-8   4-621-31214-6
書誌番号 1125047182
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1125047182

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 4階自然科学 Map 433.5 一般書 利用可 - 2079207732 iLisvirtual