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【図書】 実験物理学講座 ２３

電子顕微鏡 --
近角聡信 ／〔ほか〕編   -- 共立出版 -- １９８２．９ -- ２２ｃｍ -- ４４５ｐ

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タイトル 実験物理学講座 ２３
各巻タイトル 電子顕微鏡
著者名等 近角聡信 ／〔ほか〕編  
出版 共立出版 １９８２．９
大きさ等 ２２ｃｍ ４４５ｐ
分類 420.72
件名 物理学－実験 , 電子顕微鏡
内容 内容：概説　電子光学機器・透過型電子顕微鏡・像と回折図形・電子顕微鏡像の解釈　上田良二著．　透過型電子顕微鏡の構造と機能　電子レンズ・照射系・試料装置と観察装置・電源装置　丸勢進著．　試料技術と操作法一般的事項と試料支持膜・粉体試料およびレプリカ法・膜状試料・厚い材料からの薄片試料作成・電子顕微鏡の操作と諸量の検定　美浜和弘著．　電子顕微鏡像の解釈　非晶質物体のコントラスト・電子回折の理論・格子欠陥のコントラスト・周期構造の電子顕微鏡像・非弾性散乱電子による結像　神谷芳弘著．　走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）と関連装置　基本的事項・試料作成法と各種の信号による像・透過型走査電子顕微鏡・Ｘ線微量分析計　市ノ川竹男著．　各章末：文献　電子顕微鏡の本：ｐ４３５～４３７
ISBN(13)、ISBN 　　 4-320-03078-8
書誌番号 1190063347
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1190063347

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 422/16/23 一般書 利用可 - 0000648140 iLisvirtual

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
概説
電子光学機器・透過型電子顕微鏡・像と回折図形・電子顕微鏡像の解釈 上田　良二
透過型電子顕微鏡の構造と機能
電子レンズ・照射系・試料装置と観察装置・電源装置 丸勢　進
試料技術と操作法一般的事項と試料支持膜・粉体試料およびレプリカ法・膜状 美浜　和弘
電子顕微鏡像の解釈
非晶質物体のコントラスト・電子回折の理論・格子欠陥のコントラスト・周期 神谷　芳弘
走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）と関連装置
基本的事項・試料作成法と各種の信号による像・透過型走査電子顕微鏡・Ｘ線 市ノ川　竹男

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