走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法 --
副島啓義 /著   -- 日刊工業新聞社 -- 1987.2 -- 27cm -- 597,5p

資料詳細

タイトル 電子線マイクロアナリシス
副書名 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法
著者名等 副島啓義 /著  
出版 日刊工業新聞社 1987.2
大きさ等 27cm 597,5p
分類 433.5
件名 エックス線分光分析 , 微量分析
内容 引用・参考文献:p592~597
要旨 本書は「EPMAとは何ぞや」をあらためて整理し、基本を理論と実際面から十分理解するとともに、精度良く利用するための詳細な現場的分析技術と、臨機応変な広い応用技術について書かれたものである。
目次 装置と分析法の概要;電子とX線;装置各部の構造と役割;EPMAの空間分解能;試料作成の基本;分析条件の設定;データの解析と解釈;表面観察(電子線像)の実際;定性分析の実際;線分析の実際;面分析(X線像)の実際;定量分析の実際;状態分析の実際;EPMAのさまざまな付属機能および自動化;オペレータが行う装置の診断と調整
ISBN(13)、ISBN    4-526-02100-8
書誌番号 1190242736
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1190242736

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 433.5/20 一般書 利用可 - 0004274571 iLisvirtual