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【図書】 材料の評価システム

材料テクノロジー --
堂山昌男，山本良一／編, 岸輝雄／〔ほか〕著, 　 -- 東京大学出版会 -- １９８７．７ -- ２１ｃｍ -- １９９ｐ

タイトル	材料の評価システム
シリーズ名	材料テクノロジー
著者名等	堂山昌男，山本良一／編, 岸輝雄／〔ほか〕著,
出版	東京大学出版会１９８７．７
大きさ等	２１ｃｍ１９９ｐ
分類	501.5
件名	材料試験
内容	各章末：参考文献
目次	１．　材料のその場評価手法（電子線回折による材料評価；オージェ電子分光による材料評価；エネルギー損失分光による材料評価）；２．　半導体材料プロセスの評価法（半導体材料プロセスとデバイス製作；接合容量による評価；イオン注入層の評価）；３．　力学的性質評価法（従来の材料試験法と破壊力学的試験法；引張試験、圧縮試験；曲げ試験、抗折試験　ほか）；４．　非破壊評価法（超音波探傷試験；放射線透過試験；磁粉探傷試験；浸透探傷試験；電磁誘導試験）；５．　アコースティックエミッションによる材料評価法（ＡＥの原理；ＡＥ計測システム；ＡＥ信号処理パラメータの意味；ＡＥの発生機構；破壊のＡＥ　ほか）
ISBN(13)、ISBN	4-13-064158-1
書誌番号	1190255551

所蔵

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所蔵館	所蔵場所	別置	請求記号	資料区分	状態	取扱	資料コード
中央	書庫		501.5/4	一般書	利用可	-	0000141224