K books --
宇佐美晶 /著   -- 工業調査会 -- 1988.5 -- 19cm -- 191p

資料詳細

タイトル 100例にみる半導体評価技術
シリーズ名 K books
著者名等 宇佐美晶 /著  
出版 工業調査会 1988.5
大きさ等 19cm 191p
分類 549.8
件名 半導体
内容 各章末:参考文献
要旨 LSIや光デバイスなどを中心とする半導体デバイスがシステムの基幹デバイスとして重宝がられてから久しい。このデバイスを陰で支えているのが評価技術である。半導体評価技術はデバイスを形成するための材料の評価技術、デバイスを製造するプロセスの評価技術、さらに製造されたLSIなどのデバイスの評価に大別できる。本書ではこれらの中から基幹となるような100項目を取り上げ、できるだけ数式を用いずに平易に解説している。
目次 第1編 材料評価技術(オフライン評価技術;オンライン材料評価);第2編 デバイス工程評価技術(オンライン工程評価技術;in‐situ評価技術);第3編 デバイス評価技術(個別デバイスの評価;LSIの評価技術)
ISBN(13)、ISBN    4-7693-6064-9
書誌番号 1190280234
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1190280234

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 549.8/156 一般書 利用可 - 0004146778 iLisvirtual