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【図書】 半導体デバイスの信頼性技術

松下電子工業株式会社 ／編   -- 日科技連出版社 -- １９８８．７ -- ２２ｃｍ -- ３３３ｐ

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タイトル 半導体デバイスの信頼性技術
著者名等 松下電子工業株式会社 ／編  
出版 日科技連出版社 １９８８．７
大きさ等 ２２ｃｍ ３３３ｐ
分類 549.8
件名 半導体
注記 監修：安食恒雄
内容 参考文献：ｐ３１７～３２７
目次 第１章　半導体デバイスの特質；第２章　品質保証の実際；第３章　信頼性評価の基本；第４章　信頼性要因と故障解析；第５章　個別デバイスの信頼性の課題；第６章　集積回路デバイスの信頼性の課題；第７章　品質保証に関する規格および認証制度
ISBN(13)、ISBN 　　 4-8171-3021-0
書誌番号 1190281398
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1190281398

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 549.8/154 一般書 利用可 - 0004221273 iLisvirtual

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