【図書】 Ａｄｖａｎｃｅｓ ｉｎ ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ ａｎｄ ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｐｈｙｓｉｃｓ ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔ． ２０
Ａｔｏｍ－ｐｒｏｂｅ ｆｉｅｌｄ ｉｏｎ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ ａｎｄ ｉｔｓ ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ． -- Ｐｅｔｅｒ Ｗ．Ｈａｗｋｅｓ． -- Ａｃａｄｅｍｉｃ Ｐｒｅｓｓ -- ｃ１９８７． -- ２４ ｃｍ． -- ２９９ ｐ．
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