超LSI技術 -- 20 --
半導体研究振興会 /〔編〕   -- 工業調査会 -- 1996.08 -- 27cm -- 337p

資料詳細

タイトル 半導体研究 42
各巻タイトル 超LSI技術 20
著者名等 半導体研究振興会 /〔編〕  
出版 工業調査会 1996.08
大きさ等 27cm 337p
分類 549.8
件名 半導体
内容 各章末:参考文献
要旨 本書は、超LSIシリーズの20巻目にあたり、サブ0.1μm世代に向けて各プロセスを基礎から見直し、今後の開発方向を考えることを目的とした。
目次 1章 シリコンLSIの将来;2章 イオン注入によるクォータミクロンCMOS構造設計;3章 高精度プロセスモデリング;4章 0.35~0.25μm光リソグラフィ技術;5章 EB露光(図形一括露光とマルチビーム)の現状と課題;6章 化学増幅型レジストの現状と今後の展望;7章 O3酸化技術;8章 アルミニウム配線のエレクトロマイグレーション;9章 シリコンにおける重金属ゲッタリング
ISBN(13)、ISBN    4-7693-1148-6
書誌番号 1196046666
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1196046666

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 549.8/1/42 一般書 利用可 - 2008394124 iLisvirtual