佐藤公隆 /編集   -- アグネ技術センター -- 1998.01 -- 21cm -- 360p

資料詳細

タイトル X線分析最前線
著者名等 佐藤公隆 /編集  
出版 アグネ技術センター 1998.01
大きさ等 21cm 360p
分類 433.5
件名 エックス線分光分析
注記 監修:合志陽一
内容 各章末:参考文献
要旨 「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でPIXEや全反射蛍光X線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してX線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。
目次 総論(新たな発展期を迎えたX線分析;X線分析の特徴と使い分け―なぜX線分析を使うのか);方法論(全反射蛍光X線分析;蛍光X線の干渉現象;X線回折分析 ほか);応用編(半導体材料とX線分析;金属・無機材料とX線分析;有機・高分子材料とX線分析 ほか)
ISBN(13)、ISBN    4-7507-0868-2
書誌番号 1198000151
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1198000151

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 433.5/23 一般書 利用可 - 2012895960 iLisvirtual