進藤大輔 /共著, 及川哲夫 /共著   -- 共立出版 -- 1999.05 -- 26cm -- 182p

資料詳細

タイトル 材料評価のための分析電子顕微鏡法
著者名等 進藤大輔 /共著, 及川哲夫 /共著  
出版 共立出版 1999.05
大きさ等 26cm 182p
分類 501.5
件名 材料試験 , 電子顕微鏡
内容 文献あり 索引あり
要旨 本書では、電子顕微鏡関係の研究者に限らず、特に材料開発に携わる研究者や学生にも読みやすいものとするため、数多くの装置の模式図や解析データを掲載した。また、電子顕微鏡のハードの動作原理について詳述するとともに、分析技法としてEELS(電子エネルギー損失分光法)とEDS(エネルギー分散型X線分光法)を中心にその原理と応用について平易に解説している。
目次 1章 分析電子顕微鏡法の基礎;2章 分析電子顕微鏡の構成と基本操作;3章 電子エネルギー損失分光法(EELS);4章 エネルギー分散型X線分光法(EDS);5章 分析電子顕微鏡法の周辺技法
ISBN(13)、ISBN    4-320-08524-8
書誌番号 1199029035

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中央 4階自然科学 Map 501.5 一般書 利用可 - 2017254076 iLisvirtual