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【図書】 ＬＳＩ故障解析技術

新版 --
二川清 ／著   -- 日科技連出版社 -- ２０１１．９ -- ２１ｃｍ -- １９４ｐ

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タイトル ＬＳＩ故障解析技術
版情報 新版
著者名等 二川清 ／著  
出版 日科技連出版社 ２０１１．９
大きさ等 ２１ｃｍ １９４ｐ
分類 549.7
件名 集積回路
注記 初版（工業調査会２００７年刊）のタイトル：ＬＳＩ故障解析技術のすべて
注記 文献あり　索引あり
要旨 ＬＳＩの故障解析を実施する際や、故障解析技術を研究開発する際に必要な知識・経験は多岐にわたるが、本書の中心は故障解析技術そのものである。本書では、最新の技術を解説するとともに、広く用されている従来からの技術も紹介する。
目次 第１章　ＬＳＩの故障とその特徴（故障解析に関連するＬＳＩのトレンド；ＬＳＩの故障の特徴　ほか）；第２章　ＬＳＩ故障解析技術概論（基本の「き」；故障解析の手順　ほか）；第３章　故障解析事例（ＤＲＡＭのＩＲ‐ＯＢＩＲＣＨなどによる解析事例；ロジックＬＳＩ（システムＬＳＩ）の解析事例　ほか）；第４章　新しい故障解析関連手法の開発動向（光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向；ＯＢＩＲＣＨ関連手法発展の流れと最近の動向　ほか）
ISBN(13)、ISBN 978-4-8171-9414-5　　 4-8171-9414-6
書誌番号 1111068164
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1111068164

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 ４階自然科学 Map 549.7 一般書 利用可 - 2047135462 iLisvirtual

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