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【図書】
LSI故障解析技術
新版 --
二川清
/著 --
日科技連出版社 -- 2011.9 -- 21cm -- 194p
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資料詳細
タイトル
LSI故障解析技術
版情報
新版
著者名等
二川清
/著
出版
日科技連出版社 2011.9
大きさ等
21cm 194p
分類
549.7
件名
集積回路
注記
初版(工業調査会2007年刊)のタイトル:LSI故障解析技術のすべて
注記
文献あり 索引あり
要旨
LSIの故障解析を実施する際や、故障解析技術を研究開発する際に必要な知識・経験は多岐にわたるが、本書の中心は故障解析技術そのものである。本書では、最新の技術を解説するとともに、広く用されている従来からの技術も紹介する。
目次
第1章 LSIの故障とその特徴(故障解析に関連するLSIのトレンド;LSIの故障の特徴 ほか);第2章 LSI故障解析技術概論(基本の「き」;故障解析の手順 ほか);第3章 故障解析事例(DRAMのIR‐OBIRCHなどによる解析事例;ロジックLSI(システムLSI)の解析事例 ほか);第4章 新しい故障解析関連手法の開発動向(光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向;OBIRCH関連手法発展の流れと最近の動向 ほか)
ISBN(13)、ISBN
978-4-8171-9414-5 4-8171-9414-6
書誌番号
1111068164
URL
https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1111068164
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所蔵
所蔵は
1
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所蔵館
所蔵場所
別置
請求記号
資料区分
状態
取扱
資料コード
中央
4階自然科学
Map
549.7
一般書
利用可
-
2047135462
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