改訂 --
佐藤公隆 /編, 合志陽一 /監修   -- アグネ技術センター -- 2002.03 -- 21cm -- 386p

資料詳細

タイトル X線分析最前線
版情報 改訂
著者名等 佐藤公隆 /編, 合志陽一 /監修  
出版 アグネ技術センター 2002.03
大きさ等 21cm 386p
分類 433.5
件名 エックス線分光分析
内容 年表あり 索引あり
要旨 「総論」では概要、各手法の特徴と使い分けについて、「方法論」でPIXEや全反射蛍光X線などの先端的内容を、「応用編」は薄膜・半導体やユニークな物質への応用例を紹介するなど、全編を通してX線分析の最前線の情報を網羅した。分析技術者、材料研究者ばかりでなく、先進材料の現場においても必携の書。
目次 総論(新たな発展期を迎えたX線分析;X線分析の特徴と使い分け―なぜX線分析を使うのか);方法論(全反射蛍光X線分析;蛍光X線の干渉現象;X線回折分析;イオン励起X線分析(PIXE) ほか);応用編(半導体材料とX線分析;金属・無機材料とX線分析;有機・高分子材料とX線分析;カラーラウエ法による薄膜の構造解析 ほか)
ISBN(13)、ISBN    4-900041-95-5
書誌番号 1102014189
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1102014189

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 4階自然科学 Map 433.5 一般書 利用可 - 2021224203 iLisvirtual