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【図書】 いちばんやさしい　ソフトウェアテストの本

技評ＳＥ新書 --
石原一宏 ／著, 布施昌弘 ／著   -- 技術評論社 -- ２００９．２ -- １８ｃｍ -- １５０ｐ

資料詳細

タイトル いちばんやさしい　ソフトウェアテストの本
シリーズ名 技評ＳＥ新書
著者名等 石原一宏 ／著, 布施昌弘 ／著  
出版 技術評論社 ２００９．２
大きさ等 １８ｃｍ １５０ｐ
分類 007.63
件名 電子計算機－ソフトウェア
注記 文献あり
要旨 本書は専門用語を極力使わずに書き下ろした、いちばん分かりやすいソフトウェアテストの入門書である。最近「システム障害」「製品不具合」に関するニュースが増えてきているが、そんな折、ソフトウェアに潜むバグを発見する仕事、ソフトウェアテストに注目が集まっている。新しい産業になりつつあるソフトウェアテストの概要を、誰にでも理解してもらえるように解説した。
目次 第１章　ソフトウェアテストとは；第２章　開発の流れとテスト；第３章　テストの流れとドキュメント；第４章　ソフトウェア開発における２種類のテスト―ホワイトボックステストとブラックボックステスト；第５章　ブラックボックステスト技法；第６章　先輩たちの勘所
ISBN(13)、ISBN 978-4-7741-3745-2　　 4-7741-3745-6
書誌番号 1109004565
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1109004565

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 007.6/12233 一般書 利用可 - 2046015560 iLisvirtual

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