松村謙 /共著, 坂巻佳壽美 /共著   -- オーム社 -- 2012.3 -- 24cm -- 158p

資料詳細

タイトル VHDLによるFPGA設計&デバッグ
著者名等 松村謙 /共著, 坂巻佳壽美 /共著  
出版 オーム社 2012.3
大きさ等 24cm 158p
分類 549.3
件名 電子回路 , プログラミング(コンピュータ)
注記 索引あり
著者紹介 【松村】1996年芝浦工業大学システム工学部卒、リーテック(株)入社。99年(株)ストラテジー入社、現在に至る。
内容紹介 FPGAデバイスにおける論理回路設計の効率化。ディジタル回路設計の不具合を発見するための、テスト用プログラムに焦点を当てたテキスト。効率よく回路設計を行うためのノウハウを解説する。
要旨 VHDLによる回路設計の基本的な説明からテストのための記述に仕方に至るまでの、一連の工程を紹介する。
目次 1 なぜ今、HDLによるFPGA設計なのか?(電子回路設計のパラダイムシフト;HDLの種類と標準化の動向 ほか);2 VHDLによる回路記述(VHDL記述の基礎;テストベンチの書き方 ほか);3 より効率的なデバッグ(assert文によるエラー判定;generic文によるパラメータ渡し ほか);4 大規模回路の設計とデバッグへの対応(TPUについて;階層化設計 ほか)
ISBN(13)、ISBN 978-4-274-50385-6   4-274-50385-2
書誌番号 1112022657
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1112022657

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
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