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【図書】
テスタブルな論理回路の設計
R.G.ベネッツ
/著 --
啓学出版 -- 1991.7 -- 21cm -- 215p
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資料詳細
タイトル
テスタブルな論理回路の設計
著者名等
R.G.ベネッツ
/著
出版
啓学出版 1991.7
大きさ等
21cm 215p
分類
548.2
要旨
VLSIチップ、ボード、あるいはシステムのいずれのレベルであれ、最新のディジタル回路のテストは高いコストを要するだけでなく知的にも高度なものが要求される。しかし、集積回路とシステムの業界では、最近、デザインとテストの仕事を結合してコストを節減しようという傾向が顕著になってきており、「テスタブルなデザイン」という概念が根づいてきている。本書は、現在使われているテスタブルな論理回路の主な設計手法について詳しく解説する。
目次
第1章 ディジタルテスティング―テスタブルなデザインの必要性;第2章 テスタビリティーの測定―CAMELOTの手法;第3章 構造的デザイン技法および自己テスト;第4章 スキャンデザインによる回路のためのテストの生成;第5章 テスタブルな回路デザインのための実際的ガイドライン;第6章 テスタブルなデザイン―その将来は?
ISBN(13)、ISBN
4-7665-0545-X
書誌番号
1190592976
URL
https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1190592976
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所蔵
所蔵は
1
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所蔵館
所蔵場所
別置
請求記号
資料区分
状態
取扱
資料コード
中央
書庫
548.2/660
一般書
利用可
-
0004650603
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