新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例 -- IF essence --
坂巻佳寿美 /著   -- CQ出版 -- 1998.12 -- 21cm -- 182p

資料詳細

タイトル JTAGテストの基礎と応用
副書名 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例
シリーズ名 IF essence
著者名等 坂巻佳寿美 /著  
出版 CQ出版 1998.12
大きさ等 21cm 182p
分類 549.3
件名 電子回路
内容 文献あり 索引あり
要旨 本書では、比較的身近になったJTAG対応デバイスを実際に使用し、テスト対象ハードウェアを自作することから始め、パソコンのプリンタポートを利用したTAP制御プログラムについてもC言語で紹介している。
目次 第1章 JTAGテストの必要性;第2章 JTAGテスト対応デバイスの仕組み;第3章 JTAGテストの機能;第4章 簡易版JTAGテストプログラムの実際;第5章 JTAGテストの応用;第6章 アナログICのJTAGテスト
ISBN(13)、ISBN    4-7898-3682-7
書誌番号 1198067590
URL https://opac.lib.city.yokohama.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?bibid=1198067590

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所蔵館 所蔵場所 別置 請求記号 資料区分 状態 取扱 資料コード
中央 書庫 549.3/225 一般書 利用可 - 2015975574 iLisvirtual